The 70th JSAP Spring Meeting 2023

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Oral presentation

3 Optics and Photonics » 3.7 Optical measurement, instrumentation, and sensor (formerly 3.8)

[17p-A502-1~16] 3.7 Optical measurement, instrumentation, and sensor (formerly 3.8)

Fri. Mar 17, 2023 1:00 PM - 5:30 PM A502 (Building No. 6)

Toshihiro Somekawa(Inst. for Laser Tech.), Koyama Yuya(Chiba Institute of Technology)

4:15 PM - 4:30 PM

[17p-A502-12] Demonstration of reflective passive spectroscopic imaging optics for broadband (3~20μm) measurement

Haruto Adachi1, Tomoya Kitazaki1, Daichi Anabuki1, Hibiki Yano1, Ichiro Ishimaru1 (1.Kagawa Univ.)

Keywords:Thermal infrared spectroscopy, free-curved surface mirror, wide area measurement

近年,計測波長帯域3~20μmに対応可能な広帯域中赤外カメラの誕生によって,多様な成分計測できることを期待されている.しかし,波長帯域3~20μmにレンズの透過率を確保するためのARコーティングは原理的に困難である.そこで,可視領域から遠赤外領域まで均一で高い反射率を有する金蒸着の自由曲面ミラーを用いた反射型パッシブ分光イメージング光学系を新たに提案し,AluminaおよびPolypropyleneの発光ピークを検出した結果について述べる.