[17p-D511-1~15] 22.1 合同セッションM 「フォノンエンジニアリング」

[17p-D511-3] 異種酸化物界面の欠陥密度と界面熱抵抗の関係：分子動力学による解析

〇渡辺 留久人¹、渡邉 孝信¹、山中 湧司¹ (1.早大理工)

キーワード：半導体、界面