[17p-PA08-1~7] 6.5 表面物理・真空

[17p-PA08-7] 酸化物粉末の軟X線出現電位分光

〇柏倉 隆之¹ (1.宇都宮大工)

キーワード：出現電位分光、バルク敏感、化学状態分析

我々は、X線に対するバンドパスフィルタ的に分光器を用いて軟X線出現電位分光法（Soft X-ray Appearance Potential Spectroscopy, SXAPS）を測定する装置を開発してきた。SXAPSの測定は、酸化物粉末の帯電を抑えるために導電性のカバー層を形成してから行った。CeO₂粉末について測定したCe M₅, M₄吸収端のSXAPSは、いずれも対応するXANES（X-ray Absorption Near Edge Structure）と類似のピーク構造を示した。講演では、帯電がスペクトルに与える影響等について説明する。