[18a-B409-1~9] 12.3 機能材料・萌芽的デバイス

△ [18a-B409-1] 走査トンネル顕微鏡を用いたインジウム超薄膜からの発光観測

〇黒石 健太¹、奥山 弘¹、八田 振一郎¹、有賀 哲也¹ (1.京大院理)

キーワード：薄膜、走査プローブ顕微鏡、量子井戸発光

走査トンネル顕微鏡(STM)を用いてSI(111)基板上に作成したIn超薄膜からの発光観測を行った。
薄膜の厚さを3原子層から1層ずつ増やすにしたがい、量子井戸準位がシフトする様子を走査トンネル分光法にて確認した。さらに量子井戸準位を介したトンネル電子による発光を観測し、その波長はSTM探針-試料間のバイアス電圧と薄膜の厚さによって制御することが可能であることを明らかにした。