The 70th JSAP Spring Meeting 2023

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Oral presentation

1 Interdisciplinary Physics and Related Areas of Science and Technology » 1.5 Instrumentation, measurement and Metrology

[18a-D209-1~14] 1.5 Instrumentation, measurement and Metrology

Sat. Mar 18, 2023 9:00 AM - 12:30 PM D209 (Building No. 11)

Nao Terasaki(AIST)

12:00 PM - 12:15 PM

[18a-D209-13] Machine Learning-assisted High-Resolution Electrical Impedance Tomography towards Health Monitoring of Inhomogeneous Building Materials

Keiya Minakawa1, Keigo Ohta1, Hiroaki Komatsu1, Hyoga Ikeda2, Yunmi Kim2, Tomoko Fukuyama2, Takashi Ikuno1 (1.Tokyo Univ. of Sci., 2.Ritsumeikan Univ.)

Keywords:machine learning, electrical impedance tomography, visualization

EIT法によるインピーダンス分布の推定は典型的な不良設定問題であるため,厳密解を得ることはできない.一般的には,チホノフの正則化法(以下,従来法)により近似解を得るが,解に誤差を含むため空間分解能が低くなる.そこで本研究では,従来法を一切用いず,機械学習のみでインピーダンスの空間分布の推定を行うことで,空間分解能向上を目指した.