2023年第70回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

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[18a-D209-1~14] 1.5 計測技術・計測標準

2023年3月18日(土) 09:00 〜 12:30 D209 (11号館)

寺崎 正(産総研)

09:30 〜 09:45

[18a-D209-3] レンズアレイを用いた散乱光角度依存解析

執行 航希1、伊藤 優佑1、今城 勝治1 (1.三菱電機)

キーワード:散乱解析、ライトフィールド

本研究では、静的光散乱法の機械スキャンを補い、高速に動く微小粒子の散乱特性を瞬時に検出するための、レンズアレイを利用した同時多角度観察法を提案する。この観察方法では一度に複数の角度から散乱体を観察することで、三次元空間中のどの位置にどんな粒子があるか、それぞれの角度における光の強度をも観察可能な三次元観察技術である。発表においては、散乱光の多角度・同時観察による計測法や解析技術に関して報告を行う。