検査技術・診断(6)

[VI-574] 鋼橋における塗膜下のき裂を対象とした多チャンネル渦電流探傷システムの開発

〇大橋 タケル¹、瀬戸口 雄介¹、畠中 宏明¹ (1.株式会社IHI)

キーワード：インフラ、鋼橋、渦電流探傷、き裂、塗膜割れ、スクリーニング

鋼橋においては目視点検にて塗膜割れが確認されると、塗膜下の疲労き裂が懸念されるため、塗膜を除去したのち磁粉探傷試験による詳細検査が行われる。しかし塗膜割れ部に疲労き裂が確認されることはあまりなく、詳細検査実施による検査時間とコストの増大が課題となっている。渦電流探傷技術は、き裂等の表面きずを検出可能な技術であるが、塗膜等により部材とプローブ間にリフトオフが発生すると、探傷感度が低下する。そのため、検査技術者の技量に依存するところが大きく、見落としが懸念されている。そこで本研究では、渦電流探傷プローブの高感度化及びアレイ化により、塗膜下のき裂を見落としなく検出可能な探傷システムを開発した。