[IV-74] 倒立に据えたTLS計測器による立坑内部の計測
キーワード：3Dレーザースキャナ、立坑、倒立TLS計測
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講演情報
第IV部門
測量・リモートセンシング(1)
2021年9月9日(木) 13:00 〜 14:20 IV-3 (Room17)
座長：赤塚 慎（高知工科大学）