品質管理(6)

[VI-965] レーザー測距技術と幾何学計算を用いたテールクリアランス自動計測システム

〇髙原 裕介¹、田口 毅¹、坪井 広美¹、行川 起央¹ (1.西松建設)

キーワード：シールド、テールクリアランス、レーザー測距、品質管理