11:40 〜 11:50
[I-265] 高感度磁気非破壊検査による溶接部のき裂検出における基準測定位置に関する検討
キーワード：高感度磁気非破壊検査、疲労き裂、漏洩磁束法、面外ガセット溶接継手
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講演情報
第I部門
非破壊評価
2022年9月16日(金) 11:10 〜 12:30 I-3 (吉田南４号館 ４共１２)
座長：鈴木 啓悟（福井大学）