スケジュール 20 いいね! 2 コメント (0) 16:50 〜 17:00 [IV-23] 写真測量のための深層学習を用いた外れ点除去 *森 直樹1、伊藤 康一2、鈴木 光2 (1. MHIパワーエンジニアリング株式会社、2. 東北大学) キーワード:PointNET++、機械学習、外れ点 要旨・抄録、PDFの閲覧には参加者用アカウントでのログインが必要です。参加者ログイン後に閲覧・ダウンロードできます。 » 参加者用ログイン