スケジュール 21 いいね! 1 コメント (0) 09:40 〜 09:50 [V-320] 写真測量を用いたひび割れ部欠損量の定量的評価手法に関する検討 *松本 第佑1、丸山 記美雄1、星 卓見1 (1. 国立研究開発法人土木研究所 寒地土木研究所) キーワード:写真測量、SfM、DEM、フォグシール、ひび割れ部欠損 要旨・抄録、PDFの閲覧には参加者用アカウントでのログインが必要です。参加者ログイン後に閲覧・ダウンロードできます。 » 参加者用ログイン