スケジュール 4 いいね! 0 コメント (0) 14:00 〜 14:10 [VI-658] 非接触計測技術を利用したシールド計測自動化技術開発実績 *紀伊 吉隆1、橋村 義人2 (1. 鹿島建設、2. 計測技研) キーワード:シールド、測定技術、非接触計測、テールクリアランス、目違い、目開き 要旨・抄録、PDFの閲覧には参加者用アカウントでのログインが必要です。参加者ログイン後に閲覧・ダウンロードできます。 » 参加者用ログイン