スケジュール 14 いいね! 0 コメント (0) 09:20 〜 09:30 [VI-87] シールド工法のAI化技術の開発 その3 (セグメント面向き計測と最後端部クリアランス計測システム) *中村 太三1、市川 政美1、山崎 友誉1、伊藤 憲二2 (1. 戸田建設(株)、2. (株)きんそく) キーワード:シールド、テールクリアランス、計測装置、カメラ、レーザー 要旨・抄録、PDFの閲覧には参加者用アカウントでのログインが必要です。参加者ログイン後に閲覧・ダウンロードできます。 » 参加者用ログイン