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I部門：構造

構造3

Fri. Mar 3, 2023 2:15 PM - 3:45 PM 第1会場 (8号館501)

Chair: Atsushi Itoh

2:39 PM - 2:51 PM

[I-17] PC箱桁橋における分布型光ファイバセンサによるひび割れ評価

*Shizuka Terao¹, Takahiro Arai², Yasushi Tanaka¹ (1. Kanazawa Institute of Technology, 2. Kajima Corporation)

Keywords:ひび割れ評価、PC箱桁橋、現地載荷試験、光ファイバセンサ、分布計測

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