OS16: き裂・き裂進展解析や構造健全性評価に関する数値解析

[C-01] き裂・き裂進展解析や構造健全性評価に関する数値解析(1)

2018年6月6日(水) 10:15 〜 11:45 会場C (11F)

座長:岡田裕(東京理科大学)

10:15 〜 10:30

[C-01-01] 表面き裂解析プログラムSCANPに対するコード検証

*永井政貴¹、三浦直樹¹、白鳥正樹² (1. 電力中央研究所、2. 横浜国立大学)

10:30 〜 10:45

*新井慶¹、高橋昭如²、菊池正紀² (1. 東京理科大学大学院、2. 東京理科大学)

10:45 〜 11:00

*尾崎伸吾¹、中村茉里香¹、青木祐也¹、竹尾恭平¹、長田俊郎² (1. 横浜国立大学、2. 物質・材料研究機構)

11:00 〜 11:15

*石橋奏¹、新宅勇一¹ (1. 筑波大学)

11:15 〜 11:30

*和田義孝¹、並田宜樹¹ (1. 近畿大学理工学部機械工学科)

11:30 〜 11:45

*大田悠介¹、佐藤皓明¹、大井達也¹、岡田裕¹、遊佐泰紀¹ (1. 東京理科大学)