[B-04] OS26 フェーズフィールド法とその関連技術の最先端 (4)

[B-04-01] Phase-field法における乱数がデンドライト構造に与える影響の検討

*藤原 紳也¹、岡田 清志郎¹、遠藤 克浩²、平山 健太¹、村松 眞由¹ (1. 慶應義塾大学、2. 産業技術総合研究所)