スケジュール 6 15:15 〜 16:15 [13P-22] 視線計測による似顔絵描画時の集中レベルの検討 *西村 賢吾1、井上 裕文2、正司 強1、大西 厳1 (1. 広島国際大学、2. (株)AOKI) 抄録パスワード認証抄録の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。 パスワード 認証