[J041p] 超音波計測・解析法の新展開［ポスター］

[J041p-12] Conductance change of metallic nano-contacts by micro-tensile deformation

〇Shunsuke Hatomoto¹, Toshiyuki Kondo^1,2, Nobutomo Nakamura¹ (1. 大阪大学、2. 九州大学)

Keywords:微小引張試験、金属ナノ接点、抵抗スペクトロスコピー、量子化コンダクタンス