[P1-7] 側頭葉由来のてんかん性放電の検出における頬電極の有用性に関する検討
【目的】内側側頭葉てんかんでは側頭葉内側底面のてんかん性活動を見落とさないことが重要である.頬電極が間欠期てんかん性放電(IED:interictal epileptiform discharge)の検出において有用か検討した.【方法】側頭葉由来の焦点てんかんが疑われ,従来電極(CE:conventional electrode)に加えて頬電極(EE:extended facial electrode,眼球直下から蝶形骨にかけて配置)を追加して脳波検査が行われた36例を対象とし,IEDの有無,局在, 頻度について後ろ向きに調査した.【結果】36例中9例でIEDが記録された.CEで検出されたすべてのIEDはEEでも検出された.IEDの最大陰性電位はCEとEEでほぼ同等に分布した.【結論】頬電極はIEDの検出において有用と考えられた.装着の簡便性を生かして簡易脳波などに応用していける可能性がある.