第42回日本放射線技術学会秋季学術大会

講演情報

一般研究発表

X 線検査 EI

2014年10月10日(金) 09:00 〜 10:00 第6会場 (107, 108室)

座長:中前光弘(奈良県立医科大学附属病院)

[281] デバイスの違いが Target Exposure Index と Deviation Index に与える影響

森静香,宮本佳史子,川鍋和美,坂本悠輔,小田まこと (北海道大学病院 診療支援部 放射線部)

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