講演情報

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一般演題（口頭）

計測

計測　線量評価　CT3

2016年10月14日(金) 16:50 〜 17:30 第3会場 (4F 国際会議室)

座長:落合幸一郎(稲城市立病院)

[197] X線CT装置における半価層測定法の比較

^○畠井詩織, 佐藤斉, 五反田留見, 中島絵梨華, 野口和希, 大隅咲季, 石川麻里, 島根佑典 (茨城県立医療大学　保健医療学部　放射線技術科学科)

キーワード：measurement, half value layer (HVL), semiconductor detector

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