第44回日本放射線技術学会秋季学術大会

講演情報

一般演題(口頭)

撮影(CT)

撮影(CT) 画質評価 臨床応用2

2016年10月15日(土) 13:00 〜 13:50 第4会場 (4F 401+402)

座長:佐藤和宏(東北大学病院)

[308] 超高精細CTによるスクリーニング検査の可能性

長澤宏文1, 北村貴明1, 鈴木雅裕1, 田北淳1, 斎藤泰男2, 麻生智彦1 (1.国立がん研究センター中央病院, 2.東芝メディカルシステムズ)

キーワード:physics, density detectability, noise power spectrum (NPS), iterative reconstruction

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