第45回日本放射線技術学会秋季学術大会

講演情報

ICRST

General Session(Flat Panel detector, Quality Control, Dosimetry)

2017年10月21日(土) 09:40 〜 10:20 第3会場 (ダリア2)

Chair:Hideki Kato(Gunma Paz University)

[ICRST3-1] Evaluation of Artifact Caused by Backscatter using Flat Panel Detector

YurieShimakawa (Department of Radiology, Eastern Chiba Medical Center)

発表スライドはこちら ※大会会場のみ表示されます