第38回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム

Presentation information

Print

XFEL/X(分光・蛍光)/X(XAFS)/産業利用/その他

[11D1] X(XAFS)

Sat. Jan 11, 2025 9:00 AM - 10:15 AM D会場 (中会議室202)

座長:木村 正雄

9:00 AM - 9:15 AM

[11D1-01] オージェ収量法による表面敏感XAFS測定

*飯原 順次1、徳田 一弥1、山口 浩司1、後藤 和宏1 (1. 住友電気工業株式会社)

Keywords:電子収量法、XAFS

Abstract password authentication.
Password is required to view the abstract. Please enter a password to authenticate.

Password