第38回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム

Presentation information

[10] X(XAFS)

[11P] X(XAFS)

Sat. Jan 11, 2025 1:00 PM - 3:00 PM [10] X(XAFS) (企業展示・ポスター会場)

[11P-76] 高X線吸収デバイス内部の希薄試料に対するXAFS計測法の開発

*宇留賀 朋哉1、金子 拓真1 (1. 高輝度光科学研究センター)

Keywords:XAFS、希薄試料、高吸収材料

Abstract password authentication.
Password is required to view the abstract. Please enter a password to authenticate.

Password