[12P] XFEL

[12P-31] 単一粒子構造解析によるクリプトンナノ粒子における積層不整構造の観測

朝倉 祥平¹、熊谷 嘉晃²、*永谷 清信³、Harries James⁴、下條 竜夫⁵、吉岡 郭斗¹、久間 晋⁶、Rossi Giorgio⁷、Finardi Alice ⁷、Miron Catalin⁸、大和田 成起⁹、本村 幸治⁶、亀島 敬⁹、城地 保昌⁹、富樫 格⁹、片山 哲夫⁹、登野 健介⁹、矢橋 牧名⁶、松田 和博¹⁰、Bostedt Christoph¹¹、上田 潔¹²、和田 真一¹、仁王頭 明伸¹³ (1. 広島大院先進理工、2. 奈良女子大理、3. 京大院理、4. 量研技構、5. 兵庫県立大院理、6. 理研RSC、7. Univ of Milan、8. CEA Paris-Saclay、9. JASRI、10. 熊大院先進科学、11. PSI、12. 東北大院理、13. 広島大院人間社会)

Keywords:XFEL、単一粒子計測、ナノ粒子