[12P] X（回折・散乱）

[12P-63] 高分子材料の変形を動的に可視化するX線Talbot干渉計の撮影高速化研究

*房 怡晨¹、小林 伸次¹、登坂 俊亮¹、白桃 拓哉²、林 杉³、上田 亮介¹、岡島 岡島³、百生 敦¹ (1. 東北大学、2. ㈱デンソー、3. あいちシンクロトロン光センター)

Keywords:非破壊検査、放射光、高速撮影