[12P] X（XAFS）

[12P-78] 分光器On-the-flyスキャンによるX線スペクトロタイコグラフィ法の高スループット化の検討

*石黒 志^1,2、上松 英司^1,2、宇留賀 朋哉³、尾崎 恭介²、本城 嘉章²、西野 玄記^2,3、小林 和生^2,3、城地 保昌^2,3、初井 宇記²、高橋 幸生^1,2 (1. 東北大学、2. 理化学研究所、3. 高輝度光科学研究センター)

Keywords:X線スペクトロタイコグラフィ、XAFS、On-the-fly測定