PDF ダウンロード スケジュール 0 [238] テラヘルツ波偏光計測(THz-TDS)法によるフッ素樹脂(PTFE)中実円筒内部残留応力評価法の基礎研究 ○三宅 茂夫1, 野渡 透一2, 岩崎 晴一郎3, 熊谷 幸治4, 花田 秀美5, 伊藤マナブ6, 梶原 優介7, (1,飯田製作所 2,飯田製作所 3,飯田製作所 4,飯田製作所 5,飯田製作所 6,飯田製作所 7,東大生研) フッ素樹脂は圧縮成形、焼成及び切削加工後の残留応力の時間経過後の開放により寸法変化が発生する。テラヘルツ波偏光計測(THz-TDS)にて、中実円筒加工品に内在する残留応力を推定する基礎研究を実施した。