パークシステムズは韓国・水原（Suwon）に本拠地を持ち、30年の歴史を持つ原子間力顕微鏡（AFM）専門メーカーです。研究用と産業用に様々な特徴を持ったAFMをご用意しております。
“最も正確で使いやすい原子間力顕微鏡”として弊社製品に共通する特徴的な機能は以下通りです。
① 独立したフレクチャー式XYスキャナ、およびZスキャナの設計により、一般的なAFMで発生するボ...

ブルカージャパン ナノ表面計測事業部では材料表面の形状、物性を評価するための様々な材用のための、各種計測ツールを取り扱っています。原子間力顕微鏡では、ナノスケールの形状や機械特性、電気特性評価、近年ではAFMを用いた赤外分光による化学分析（AFM-IR）が注目されております。その他白色干渉顕微鏡、触針式プロファイラー、ナノインデンター、摩擦摩耗試験機など、物性評価のご研究に役立つ製品を取り揃...

　国立研究開発法人物質・材料研究機構 先端材料解析研究拠点では、走査型ヘリウムイオン顕微鏡、極低温・高磁場走査型トンネル顕微鏡、低温走査型トンネル顕微鏡、スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡を用いた表面の高度な解析・分析の機会を広く提供しています。

　走査型ヘリウムイオン顕微鏡：　ナノ領域の観察とその場加工に優れています。サブナノメートルの分解能を持っています。走査型電子顕微鏡と同様の操作性や...

　これまで不可能だった金属酸化物などの半導体材料の同定を可能にする「電子トラップ密度のエネルギー分布（ERDT）」を測定するために新規に開発された逆二重励起光音響分光法（RDB-PAS）は，ほとんどの金属酸化物や半導体材料がもつ電子トラップについて，粉末や薄膜の形状のまま，試料のERDTを非破壊で見積ることができます．ERDTは粉末のおもに表面構造を反映し，粉末の製造ロットや保管条件のすこし...