9:00 AM - 9:15 AM
○堤建一1) (1)日本電子(株)SA事業ユニットSA技術開発部2G)
表面分析・応用表面科学・評価技術(ASS)
Fri. Nov 20, 2020 9:00 AM - 12:15 PM D会場
座長:山川 紘一郎・藤田 大介
9:00 AM - 9:15 AM
○堤建一1) (1)日本電子(株)SA事業ユニットSA技術開発部2G)
9:15 AM - 9:30 AM
○野崎美沙1),羽生田聖人1),平山瑠海子1),萩原学1),二木かおり1) (1)千葉大院融合理工)
9:30 AM - 9:45 AM
○篠塚寛志1),永田賢二1),吉川英樹1),本武陽一2),庄野逸3),岡田真人4,1) (1)物材機構,2)統計数理研,3)電通大,4)東大)
9:45 AM - 10:00 AM
○村上諒1),庄野逸1),永田賢二2),篠塚寛志2),吉川英樹2) (1)電通大,2)物材機構)
10:00 AM - 10:15 AM
○鈴木奈織美1),矢吹佳世1),足立健治1) (1)住友金属鉱山(株))
10:15 AM - 10:45 AM
○永村直佳1,2,3) (1)物材機構,2)JSTさきがけ,3)東理大)
休憩 (10:45 AM - 11:00 AM)
11:00 AM - 11:15 AM
○大谷文章1),高島舞1) (1)北大触媒研)
11:15 AM - 11:30 AM
○合田公平1),山本達也1),王佳浩1),菅原康弘1) (1)阪大院工)
11:30 AM - 11:45 AM
○横田泰之1),HongMisun1),早澤紀彦1),楊波1),数間恵弥子1),金有洙1) (1)理研)
11:45 AM - 12:15 PM
○山川紘一郎1),清水元希2),鈴木菜摘2),那須裕一2),坪井嶺2),倉橋裕之2),荒川一郎2) (1)原子力機構先端基礎研,2)学習院大物理)
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