2020年日本表面真空学会学術講演会

Presentation information

表面分析・応用表面科学・評価技術(ASS)

[2Dp] 表面分析・応用表面科学・評価技術(ASS)

Fri. Nov 20, 2020 1:00 PM - 3:30 PM D会場

座長:青柳 里果・野島 雅

2:30 PM - 2:45 PM

[2Dp07] He+ LEIS analysis combined with pulsed jet technique of ethanol sensing by a ZnO surface

○鈴木拓1),安達裕1),大垣武1),坂口勲1) (1)物材機構)