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[2Aa03] 多次元分光イメージング分析における機械学習活用
我々は放射光軟X線走査型光電子顕微鏡を用いて、デバイス微細構造のオペランド時空間分解測定に取り組んでいる。画像データ各点で得られるスペクトルビッグデータの計測と解析を効率化するため、変形ECMアルゴリズムを用いた高速自動ピークフィッティング解析やスパースモデリングによる超解像分析の手法を開発し、時空間、外場など様々なパラメータ依存性を調べる多次元分光イメージング分析が現実的に可能になった。