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[2Aa05] スパースモデリングを用いた超解像によるマルチフレーム顕微分光画像への展開
近年、放射光計測による顕微分光によって材料開発への展開が行われている。しかし、顕微分光によって長時間の計測を行うことにより、帯電効果などの影響で試料への劣化や熱ドリフトによる計測画像へのアーティファクトをもたらす。そこで我々は短時間で計測された低解像度の画像を複数枚用い、スパースモデリングによる超解像解析を行った。本発表ではこれらの解析手法の結果の妥当性や今後の展開について議論する。