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[2Aa14S] 有機物・高分子材料TOF-SIMSスペクトルの機械学習による予測システム開発
飛行時間形二次イオン質量分析 (TOF-SIMS) は、二次イオンの発生機構およびフラグメント化が複雑であることから、スペクトルの解釈が難しいという課題がある。TOF-SIMSではデータベース化が難しいため、データベースに変わるシステムとして、機械学習による未知試料スペクトルの予測システムの構築を目指している。有機物・高分子試料を対象とし、本研究室で所蔵するデータを用いて基礎検討を実施した。