[3Da01-12] 表面分析・応用表面科学・評価技術

[3Da02] Thorough Search法による複雑な分子およびナノ材料におけるEXAFS 解析

*城戸 大貴¹、上村 洋平²、脇坂 祐輝¹、三輪（有賀） 寛子³、高草木 達¹、朝倉 清高¹ (1. 北海道大学、2. 分子科学研究所、3. 電気通信大学)

EXAFSは原子レベルでの構造解析に有効な手段であるが、従来の解析手法にはいくつか課題がある。そこで、新規解析手法としてThorough search(TS)法を開発した。TS法は、配位数や結合距離といったパラメータの組を網羅的に調べ、その中で実験値をよく再現する組をすべて拾い上げる。例として、酸化モリブデンの解析を行った。その結果から、従来の解析手法と比較し、TS法の特徴について述べる。