[3P01-27] ポスター・企業展示

[3P20] 回折格子を用いた走査電子顕微鏡による電磁場計測

*原田 研¹、嶌田 惠子¹、高橋 由夫² (1. 理化学研究所、2. 日立製作所)

走査電子顕微鏡（SEM）を用いて空間電磁場の計測を実施した。