講演情報

口頭講演

E: レーザー計測

[E05-22a-VI] 物性計測

2020年1月22日(水) 10:45 〜 12:15 第VI会場 (展示棟)

座長:齋藤伸吾(情報通信研究機構テラヘルツ研究センター)

11:45 〜 12:00

[E05-22a-VI-03] 短波長遠赤外レーザーを用いた半絶縁性SiCウエハの光学定数測定

○中山和也¹、岡島茂樹¹ (1. 中部大工)

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