Mate2021

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一般講演セッション

[1] 接合信頼性

座長:山田 由香(豊田中央研究所)  

[1-1] A Simple Estimation Method of The Lifetime in Repeated Current Tests

一般講演

Yuki KAWAMURA, Shin UEGAKI (三菱電機(株))

Keywords:通電試験、寿命、接合、疲労