スケジュール 1 14:00 〜 16:00 [23P-116] ヘリウム輝線強度比法による電子温度・密度計測のヘリオトロンJプラズマへの適用可能性評価 *金沢 友美1、門 信一郎2、川染 勇人3、岡田 浩之2、山本 聡2、南 貴司2、小林 進二2、長崎 百伸2、大島 慎介2、中村 祐司1、石澤 明宏1、木島 滋2、呂 湘潯1、岡崎 悠1、山本 皓基1、田野平 駿1、渡邊 真太郎1、土師 直之1、米村 裕馬1、水内 亨2 (1. 京大エネ科、2. 京大エネ理工研、3. 香川高等専門学校) 抄録パスワード認証抄録の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。 パスワード 認証