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一般ポスターセッション

2023年6月22日(木) 12:40 〜 13:20 一般ポスター会場(P1) (P会場)

[P-010] 光ファイバセンサを活用したレーザ溶着品の内部ひずみ計測

*柳澤佑¹、束田拓平¹、岡田章¹ (1. ポリプラスチックス株式会社)

キーワード：ひずみ計測、光ファイバセンサ、レーザ溶着

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