Self-Heating Influence on Hot Carrier Degradation Reliability of GAA FET by 3D KMC Method

講演情報

Oral

2023年9月28日(木) 09:00 〜 11:30 Hall A

Chair: Hiu-Yung Wong (San Jose State Univ.), Nobuhiko Nakano (Keio Univ.)

09:50 〜 10:10

*Songhan Zhao¹, Pan Zhao¹, Yandong He¹, Gang Du¹ (1. School of Integrated Circuits, Peking University)

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