[B-1C] アンテナ・伝播C

[B-1-109] Curbing Method of Non-contact Connector Influence in PIM Measurement

^○白川武蔵¹, 村田翔¹, 室伏竜之介¹, 久我宣裕¹, 花山英治² (1.横浜国大, 2.職業開発大)

この講演は本会「学術奨励賞受賞候補者」の資格対象です。

Keywords:アンテナ測定、非接触測定、相互変調ひずみ、PIM

平衡平面線路用の非接触PIM 測定系が検討されている．測定に用いられる非接触コネクタ(NCC)は被測定物と結合線路を形成することで電気的に非接触な接続を可能とする．しかし，結合線路の形成によってPIM測定において影響が懸念される．従来検討では結合部分には接続用の低PIMな電極を用いることで，この影響を考慮していた．これに対し結合線路下にもPIM源が存在する場合に生じる影響について分布定数モデルを用いた回路計算で検討した例がある．そこで本稿では，この影響を実験的に評価し，試料構成による本影響の軽減手法を検討した．