[B-1-38] 反射型フリースペース法による局所反射係数測定の高精度化
キーワード：フリースペース法、反射係数測定
近年，反射位相を電気的に制御して散乱ビーム方向を変化可能なIRS (Intelligent Reflect Surface) が注目されている．一般に，IRSを含むリフレクトアレーは無限周期構造解析により得られた反射係数位相を利用して設計され，遠方界における有限構造のRCS測定が行われるが，遠方界条件を満たす距離が必要であることに加え，構造は有限であり反射係数を実験的に評価できない．一方，レンズにより電磁界を集光して複素誘電率を測定するフリースペース法では，測定されたS行列が無限スラブ構造の厳密解と良く一致することが知られている．本報告では，IRSの局所反射係数を測定することを目的とし，反射型フリースペース法を用いた反射係数測定の高精度化について述べる．
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