[B-13] 光ファイバ応用技術

[B-13-17] 不均一ひずみ計測におけるブリルアンスペクトル解析領域の粗探索

^○中川基起¹, 黒川貴矢², 成枝秀介³, 成瀬央⁴ (1.三重大, 2.三重大, 3.三重大, 4.三重大)

この講演は本会「学術奨励賞受賞候補者」の資格対象です。

キーワード：不均一ひずみ、計測、ブリルアンゲインスペクトル、解析領域、粗探索

構造モニタリングへの光ファイバひずみセンシングの応用のために、我々は、ニューラル
ネットワーク（NN）を用いた、ブリルアンゲインスペクトル（BGS）に基づく不均一ひずみの
精密計測方法を提案している。この精密計測に先立って、観測されたBGSから、NNに入力する
BGS値を含む、解析領域の中心周波数を決定する必要がある。今回は、この領域の粗探索方法を
提案するとともに、シミュレーションによってその探索特性を調べ、中心周波数として、
検出された観測周波数の中央値を用いることができることを示した。