[B-4] 環境電磁工学

[B-4-31] Effect of Common-Mode Choke Characteristics on Induced Voltage in BCI Test

^○上山博也¹, 飯田直樹¹, 萓野良樹², 肖鳳超², 上芳夫² (1.村田製作所, 2.電通大)

Keywords:コモンモードチョーク、モード変換、イミュニティ試験

近年, 自動車には電子機器が複数搭載され, 複雑な電磁環境にさらされている. それら機器同士を接続するワイヤハーネスへの印加ノイズによる電子機器の誤動作が懸念される. そのため, ISO11452-4ではワイヤハーネスへの印加ノイズを想定した試験であるBCI(Bulk Current Injection)試験が規定されている. BCI試験による誤動作は印加ノイズであるCM(Common-mode)ノイズが伝送線路でモード変換しディファレンシャルモード(Differential-Mode:DM)ノイズになることが一因とされている.
本稿では, BCI試験の印加ノイズ対策に用いられるCMC(CM Choke)がDMノイズへ与える影響を, モード変換特性の違いから示す.