[B-4] 環境電磁工学

[B-4-47] 150 Ω法測定基板を利用した半導体ICのEMCマクロモデル作成法

^○西田翔平¹, 奥村浩幸², 石橋直人², 松嶋徹¹, 福本幸弘¹ (1.九工大, 2.パナソニック)

この講演は本会「学術奨励賞受賞候補者」の資格対象です。

キーワード：EMC、マクロモデル、150Ω法、IC

半導体の供給問題により、機器のIC変更頻度が増えている。変更によりEMC評価が再度求められ、検証工数の増加が課題となっている。ICの性能差がなければEMC評価項目の削減が可能となるが、規格化されているICの等価性評価に加えてEMC評価結果の推定を可能にするため、ICのEMCマクロモデル作成に取り組んでいる。提案するマクロモデル作成では、ICのエミッション評価法IEC 61967-4（150 Ω法）と同じ測定回路を使用し、基板1枚でICのエミッション評価とモデル作成の完結を目標としている。本報告では実測によるEMCマクロモデル化に向けて、シミュレーション上でモデルのパラメータ同定が可能か検証した。結果として、150Ω法評価基板を応用した回路網により、EMCマクロモデルのパラメータ同定が可能であることが示された。