[B-5-56] 高速ビームステアリングを用いたビーム探索法におけるセルID検出性能評価
キーワード：ビームステアリング、セル
無線通信の大容量化のため，多数のアンテナ素子を用いたビームフォーミングが用いられている．ビーム毎に同期信号（SSB）を送信し，端末（UE）が使用ビームを決定するが，ビーム数が増加するとビーム探索時間が増大することが問題であった．著者らは，SSB内で高速にビームステアリングを行うことでSSB数を削減するビーム探索手法を提案してきた．本報告では，提案手法を用いた際の同期性能への影響を明らかにする．
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