[C-12-15] Analysis and Modeling of Cycle-to-Cycle Variability in ReRAM Characteristics
この講演は本会「学術奨励賞受賞候補者」の資格対象です。
Keywords:ReRAM、SPICEモデル、特性変動
抵抗変化型メモリ(ReRAM)の書き込み・消去サイクル毎の特性ばらつき(C2C変動)を回路シミュレーション用SPICEモデルに反映することを目的に,ReRAM電気特性の測定と統計解析を行った.多数回にわたるサイクル特性の測定結果を,時系列データ分析手法によりトレンド,季節性,および残差成分へと分解し,そのうち季節性成分をサンプルの平均的サイクル特性としてSPICEモデルにフィッティングした.なお,分解データには,サイクル毎に大きな残差成分が認められた。これは,スイッチング電圧のC2C変動を反映したものであり,この成分の振る舞いを考慮したモデリングが重要と考えられる.
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